局部放電力檢測(cè)系統(tǒng)試驗(yàn)回路的一般要求，敘述了幾種用于測(cè)量局部放電參量的基本試驗(yàn)回路，并介紹了這些回路和系統(tǒng)的工作原理。

有關(guān)技術(shù)委員會(huì)還可以推薦用于特殊試品的特殊試驗(yàn)回路。只要可能，建議有關(guān)技術(shù)委員會(huì)用視在電荷作為被測(cè)參量，但對(duì)特殊情況也可以使用別的參量。

如果有關(guān)技術(shù)委員會(huì)未作規(guī)定，則4.2所述的任何試驗(yàn)回路以及第5章中所規(guī)定的任何測(cè)量系統(tǒng)均可使用。

試驗(yàn)回路，用于電力金具檢測(cè)測(cè)量的大多數(shù)回路可以由圖1a)~圖1d)所示的基本回路演變而來(lái)。圖2和圖3表示這些回路的一些變化，每個(gè)回路的組成主要有：

耦合電容器Ck(應(yīng)設(shè)計(jì)為低電感電容)，或第二個(gè)試品Cn1(類似于試品Ca)。在規(guī)定的試驗(yàn)電壓下Ck或Ca1均應(yīng)具有足夠低的局部放電水平，以便對(duì)規(guī)定的局部放電值進(jìn)行測(cè)量。如果一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)能夠區(qū)分并分別測(cè)量來(lái)自試品和耦合電容器中的局部放電，那么允許Ck或Ca1具有較高的局部放電水平。

c)帶輸人阻抗的測(cè)量系統(tǒng)(對(duì)平衡回路，還需要第二個(gè)輸入阻抗)。

d)背景噪聲足夠低的高壓電源(見第6章和第7章)，以便在規(guī)定試驗(yàn)電壓下對(duì)規(guī)定的局部放電值進(jìn)行測(cè)量。

e)背景噪聲足夠低的高壓連接(見第6章和第7章)，以便在規(guī)定試驗(yàn)電壓下對(duì)規(guī)定的局部放電值進(jìn)行測(cè)量。

f)有時(shí)在高壓端接人一個(gè)阻抗或?yàn)V波器，以減小來(lái)自供電電源的背景噪聲。